Курсы
Лекторы
Школьникам
О проекте
Войти
Главная
/
Курсы
/
Кристаллография. Часть 1
/
Лекция 11. Методы исследования кристаллических структур веществ
Чем определяются физические свойства кристаллов?
x 1.00
Геология
Кристаллография. Часть 1
Лекция 11. Методы исследования кристаллических структур веществ
Ерёмин
Николай Николаевич
Предыдущая лекция
Следующая лекция
00:10
Чем определяются физические свойства кристаллов?
03:44
14 решеток Браве. Понятие решетки и структуры
08:04
230 групп пространственной симметрии
10:10
Методы исследования структуры кристаллов
11:20
Дифракционные методы исследования вещества. Рентгеновские методы
22:10
Обратная решетка и ее свойства
26:28
Представление дифракции рентгеновских лучей, уравнение Брэгга-Вульфа
30:06
Способы получения дифракционных картин и методы анализа
51:07
Исследование вещества при высоких P-T параметрах
56:54
Электронография
57:58
Нейтронография
58:59
Рентгеноспектральные методы
1:09:38
Методы теоретического моделирования кристаллических структур и свойств
Курсы
Лекторы
Школьникам
О проекте
Контакты
Свяжитесь с нами
Отправить
2025 МГУ имени М.В. Ломоносова
Условия использования сайта
Сведения об образовательной организации
Нашли ошибку?
